一．偏光顯微鏡的特點 
 偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨清楚，當然這些物質也可用染色發來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。偏光顯微鏡的特點，就是將普通光改變為偏光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物，化學等領域。在生物學和植物學也有應用。 
 二．偏光顯微鏡的基本原理 
   偏光顯微鏡的原理比較復雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件（a）起偏鏡 （b）檢偏鏡 （c）專用無應力物鏡 （d）旋轉載物臺。 
 三． 偏光鏡檢術的方式 
 （一） 正相鏡檢（Orthscope）：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特 蘭透鏡（Bertrand Lens）,同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。 
  （二） 錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。 
 四． 偏光顯微鏡在裝置上的要求 
 （一） 光源：采用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現像因波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。 
 （二） 目鏡：要帶有十字線的目鏡。 
 （三） 聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。 
 （四） 伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。 
 五． 偏光鏡檢術的要求 
 （一） 載物臺的中心與光軸同軸。 
 （二） 起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。 
 （三） 制片不宜過薄。